檢測開關與其他設備的連接

直接或通過繼電器連接到電磁鐵、電機驅動器、計數(shù)器、程序控制器(PC)輸入。為了在檢測開關與其它設備連接后能正確傳輸信號，需要調整電源類型、電流和電壓規(guī)格的輸出和輸入。

直流開關型負極共端檢測開關的連接，確定檢測開關的最大輸出電流(同步電流)大于PC輸入模塊的通流。當使用電壓輸出型檢測開關時，為了防止電流倒流傳感器引起的誤動作，傳感器電源的使用電壓應與輸入模塊電源相同。

直流(AC)二線感應開關的連接證實了檢測開關開啟時的漏電流小于PC輸入模塊的漏電流，當電源電壓減去傳感器時剩余電壓的值大于PC輸入模塊的輸入開路電壓。當開關的漏電流大于PC輸入模塊時，虛擬電阻與輸入模塊并聯(lián)，以減少流向PC輸入模塊的電流。同樣的方法也需要使用限制開關，例如霓虹燈或發(fā)光二極管。

檢測開關與計數(shù)器之間的連接可分為兩種類型：無電壓輸入型和電壓輸入型。當使用電壓輸入類型時，需要使用電壓輸出類型來調整傳感器的“H”和“L”電平。采用無電壓輸入方式時，應同時采用直流開關負公共端輸出或接觸輸出方式。當與觸點輸出類型一起使用時，需要確認流出計數(shù)器的mA電流數(shù)量是否具有切換動作性能。

當開關接通電感負載，電感負載（磁鐵、繼電器、電磁鐵）被切斷時，會產(chǎn)生數(shù)千伏的反電動勢，導致非接觸輸出元件的損壞，以及由于電磁鐵表面粗糙造成的接觸不良現(xiàn)象。接觸點。作為一種對策，反電勢吸收元件(CR，非線性電阻，二極管)應與最近的感應負載平行連接.

檢測開關的常見故障

半導體故障通常發(fā)生在使用初期，光電開關和接近開關作為主要檢測開關。

原因是電路中使用的半導體在制造過程中受到各種應力的影響，這導致在使用開始之后的短時間內發(fā)生斷裂；此外，具有比半導體低的功率的電阻和電容也是初始故障的原因。包括半導體元件不良引起的故障、電阻、電容斷線、短路、容量不足、電路板斷線、焊錫等不良現(xiàn)象，但發(fā)生率很低。如果接近開關頻繁出現(xiàn)故障，請聯(lián)系制造商使用環(huán)境。

當負載因接線錯誤或帶電操作而短路時，大電流流向檢測開關，輸出電路燒毀。在檢測開關外進行保護對策時，可采用切斷快速熔斷器短路電流的方法，并通過該熔斷器進行保護，從而保護負載的短路，并提供對地線的保護效果。